AOD-XCCHJJ-BXCCHJJ-B 光学系统像差传函焦距测量综合实验装置

一、产品简介

实际光学系统成像与理想光学系统成像之间的差异称为像差，该参数主要用于评价光学系统的成像质量；根据几何光学的观点，光学系统的理想状况是点物成点像，即物空间一点发出的光能量在像空间也集中在一点上，但由于像差的存在，在实际中是不可能的。评价一个光学系统像质优劣的根据是物空间一点发出的光能量在像空间的分布情况。在传统的像质评价中，人们先后提出了许多像质评价的方法，其中用得广泛的有分辨率法、星点法和阴影法（刀口法）。

光学系统像质评价工程上主要采用分辨率法和光学传递函数(MTF)测量法。分辨率法测量多用于大像差系统，实验简便直观；MTF测量法适用于一些高分辨率的光学系统。以上两种测量方法已广泛应用于工程实践中。

二、知识点

光学系统的球差、彗差、场曲、象散、色差、分辨力、瑞利判据、光学传递函数（OTF）、调制传递函数（MTF）、线扩散函数、空间频率、截止频率、调制度、国标分辨力板、焦距测量、镜头设计、星点法、刀口阴影法、剪切干涉法

三、涉及课程

光学、几何光学、工程光学、信息光学、应用光学、光学设计、光学系统设计、Zemax及在光电类课程中的应用、光电检测技术

四、实验内容

    1、  光学系统像差的计算机模拟

    2、  平行光管的调整使用及薄透镜焦距测量实验

    3、  星点法观测光学系统单色像差实验

    4、  分辨力板直读法测量光学系统分辨率

    5、  利用变频朗奇光栅测量光学系统MTF值实验

    6、  基于线扩散函数测量光学系统MTF值

    7、  刀口仪阴影法原理及阴影法测量光学系统像差实验（选配）

    8、  剪切干涉测量光学系统像差实验（选配）XCCHJJ-B 光学系统像差传函焦距测量综合实验装置